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樣品名稱:半導體可控硅
檢測項目:高溫反偏試驗
認可資質:其它
檢測標準:半導體分立器件試驗方法 GJB 128B-2021 1040
服務地點:全國
適用范圍:電子電氣
標簽: 半導體可控硅 高溫反偏試驗 半導體分立器件試驗方法 GJB 128B-2021 1040
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