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晶體硅中III-V族雜質含量檢測

  • 樣品名稱：晶體硅

  • 檢測項目：III-V族雜質含量

  • 認可資質：CNAS CMA

  • 檢測標準：《單晶硅Ⅲ－Ⅴ級雜質的低溫FT－IR分析測試方法》 SEMI MF1630-1107

  • 所屬行業(yè)分類：石油化工品

  • 標簽： III-V族雜質含量 晶體硅

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