您當(dāng)前的位置：首頁 > 中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所元器件檢測中心 > 電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件、 半導(dǎo)體分立器件、微電子器件中密封性試驗(yàn)檢測
樣品名稱：電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件、 半導(dǎo)體分立器件、微電子器件
檢測項(xiàng)目：密封性試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法 方法1010.1 溫度循環(huán) GJB548B-2005
所屬行業(yè)分類：電子電氣 > 環(huán)境試驗(yàn) >
標(biāo)簽： 密封性試驗(yàn) 電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件、 半導(dǎo)體分立器件、微電子器件
