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中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十三研究所檢測(cè)中心
河北省石家莊市
樣品名稱:軍用電子元器件破壞性物理分析
檢測(cè)項(xiàng)目:X-射線檢查
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):1、GJB 4027A-2006 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 2、GJB 5914-2006 各種質(zhì)量等級(jí)軍用半導(dǎo)體器件破壞性物理分析方法 3、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 4、GJB 360A-1996 電子及
所屬行業(yè)分類:
標(biāo)簽: X-射線檢查 軍用電子元器件破壞性物理分析