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電子元器件及設(shè)備 物理性能試驗(yàn)中芯片粘接的超聲檢測(cè)檢測(cè)

• 樣品名稱：電子元器件及設(shè)備 物理性能試驗(yàn)

• 檢測(cè)項(xiàng)目：芯片粘接的超聲檢測(cè)

• 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

• 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：1、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 2、GJB 548A-1996 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 3、GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 4、GJB 360A-1996 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 5、G

• 所屬行業(yè)分類：

• 標(biāo)簽： 芯片粘接的超聲檢測(cè) 電子元器件及設(shè)備 物理性能試驗(yàn)