您當(dāng)前的位置:首頁 > 中國電子科技集團(tuán)公司第十三研究所檢測(cè)中心 > 電子元器件及設(shè)備 物理性能試驗(yàn)中引線涂覆附著力檢測(cè)
樣品名稱:電子元器件及設(shè)備 物理性能試驗(yàn)
檢測(cè)項(xiàng)目:引線涂覆附著力
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):1、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 2、GJB 548A-1996 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 3、GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 4、GJB 360A-1996 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 5、G
所屬行業(yè)分類:
標(biāo)簽: 引線涂覆附著力 電子元器件及設(shè)備 物理性能試驗(yàn)