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樣品名稱:軍用電子元器件破壞性物理分析
檢測項目:外部目檢
認可資質:CNAS CMA
檢測標準:1、GJB 4027A-2006 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 2、GJB 5914-2006 各種質量等級軍用半導體器件破壞性物理分析方法 3、GJB 128A-1997 半導體分立器件試驗方法 4、GJB 360A-1996 電子及
所屬行業分類:
標簽: 外部目檢 軍用電子元器件破壞性物理分析