您當前的位置:首頁 > 中國電子科技集團公司第十三研究所檢測中心 > 軍用電子元器件破壞性物理分析中X-射線檢查檢測
樣品名稱:軍用電子元器件破壞性物理分析
檢測項目:X-射線檢查
認可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標準:1、GJB 4027A-2006 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 2、GJB 5914-2006 各種質(zhì)量等級軍用半導體器件破壞性物理分析方法 3、GJB 128A-1997 半導體分立器件試驗方法 4、GJB 360A-1996 電子及
所屬行業(yè)分類:
標簽: X-射線檢查 軍用電子元器件破壞性物理分析