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樣品名稱:軍用電子元器件破壞性物理分析
檢測項目:鍵合強(qiáng)度
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn):1、GJB 4027A-2006 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 2、GJB 5914-2006 各種質(zhì)量等級軍用半導(dǎo)體器件破壞性物理分析方法 3、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗方法 4、GJB 360A-1996 電子及
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標(biāo)簽: 鍵合強(qiáng)度 軍用電子元器件破壞性物理分析