您當(dāng)前的位置：首頁 > 湖北航天技術(shù)研究院計(jì)量測試技術(shù)研究所 > 電子元器件試驗(yàn)中靜態(tài)參數(shù)檢測
樣品名稱：電子元器件試驗(yàn)
檢測項(xiàng)目：靜態(tài)參數(shù)
認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序方法 GJB 548B-2005 2009.1 外部目檢；半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB 128A-1997方法2071外觀及機(jī)械檢查
所屬行業(yè)分類：電子電氣 > 環(huán)境試驗(yàn) >
標(biāo)簽： 靜態(tài)參數(shù) 電子元器件試驗(yàn)
