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湖北航天技術(shù)研究院計量測試技術(shù)研究所
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樣品名稱:電子元器件試驗
檢測項目:外部目檢
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗方法和程序方法 GJB 548B-2005 2009.1 外部目檢;半導(dǎo)體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997方法2071外觀及機(jī)械檢查
所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 環(huán)境試驗 >
標(biāo)簽: 外部目檢 電子元器件試驗
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