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樣品名稱：電子元器件試驗(yàn)
檢測項(xiàng)目：高溫貯存
認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548B-2005 方法1008.1穩(wěn)定性烘焙；半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB 128A-97方法1031高溫壽命 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB 360B-2009 方法108高溫壽命試驗(yàn)；
所屬行業(yè)分類：電子電氣 > 環(huán)境試驗(yàn) >
標(biāo)簽： 高溫貯存 電子元器件試驗(yàn)
