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中國(guó)航空綜合技術(shù)研究所航空綜合環(huán)境航空科技重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室
北京市
樣品名稱:電子元器件
檢測(cè)項(xiàng)目:掃描電子顯微鏡(SEM)檢查
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):GJB4027A-2006《軍用電子元器件破壞性物理分析方法》
所屬行業(yè)分類:電子電氣
標(biāo)簽: 掃描電子顯微鏡(SEM)檢查 電子元器件