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貴州航天計量測試技術研究所
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樣品名稱:半導體分立器件、集成電路、光電器件
檢測項目:破壞性物理分析
認可資質:CNAS CMA
檢測標準:《軍用電子元器件破壞性物理分析方法》GJB4027A-2006
所屬行業分類:電子電氣
標簽: 破壞性物理分析 半導體分立器件、集成電路、光電器件
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