您當前的位置:首頁 > 中國船舶重工集團第七0九研究所微電子測試校準實驗室 > 集成電路中高到低電平輸出的傳輸延遲時間檢測
樣品名稱:集成電路
檢測項目:高到低電平輸出的傳輸延遲時間
認可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標準:半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理SJ/T10735-1996 半導(dǎo)體集成電路MOS隨機存儲器測試方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半導(dǎo)體集成電路雙極型隨機存儲器測試方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半導(dǎo)體集成電路CM
所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 電子元件檢測 >
標簽: 高到低電平輸出的傳輸延遲時間 集成電路