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中國船舶重工集團(tuán)第七0九研究所微電子測試校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室
湖北省武漢市
樣品名稱：集成電路
檢測項(xiàng)目：三態(tài)轉(zhuǎn)低電平輸出時間
認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理SJ/T10735-1996 半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲器測試方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半導(dǎo)體集成電路雙極型隨機(jī)存儲器測試方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半導(dǎo)體集成電路CM
所屬行業(yè)分類：電子電氣 > 電子元件檢測 >
標(biāo)簽： 三態(tài)轉(zhuǎn)低電平輸出時間 集成電路
