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湖南航天管理局計量檢測中心
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樣品名稱:半導體分立器件篩選
檢測項目:高溫反偏
認可資質:CNAS CMA
檢測標準:GJB128A-1997 半導體分立器件試驗方法
所屬行業分類:電子電氣 > 電子元件檢測 >
標簽: 高溫反偏 半導體分立器件篩選
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