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樣品名稱:電子電氣產(chǎn)品失效分析
檢測(cè)項(xiàng)目:電子探針和X射線能譜定量分析元素含量實(shí)驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):軍用電子元器件破壞性物理分析方法 工作項(xiàng)目 1103 GJB 4027A-2006
所屬行業(yè)分類:電子電氣