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微電子器件中結構缺陷的聲學掃描顯微鏡檢查檢測

  • 樣品名稱：微電子器件

  • 檢測項目：結構缺陷的聲學掃描顯微鏡檢查

  • 認可資質：CNAS CMA

  • 檢測標準：非氣密封裝電子元件用聲波顯微鏡檢查方法 IPC/JEDEC J-STD-035-1999 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006 電子、電磁和機電元器件破壞性物理分析方法 MIL-STD 1580B-2010

  • 所屬行業分類：電子電氣

  • 標簽： 結構缺陷的聲學掃描顯微鏡檢查 微電子器件

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