您當(dāng)前的位置:首頁 > 中興通訊股份有限公司材料實(shí)驗(yàn)室 > 微電子器件中結(jié)構(gòu)缺陷的聲學(xué)掃描顯微鏡檢查檢測
樣品名稱:微電子器件
檢測項(xiàng)目:結(jié)構(gòu)缺陷的聲學(xué)掃描顯微鏡檢查
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn):非氣密封裝電子元件用聲波顯微鏡檢查方法 IPC/JEDEC J-STD-035-1999 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006 電子、電磁和機(jī)電元器件破壞性物理分析方法 MIL-STD 1580B-2010
所屬行業(yè)分類:電子電氣
標(biāo)簽: 結(jié)構(gòu)缺陷的聲學(xué)掃描顯微鏡檢查 微電子器件