您當(dāng)前的位置:首頁(yè) > 亞旭電子科技(江蘇)有限公司零件工程實(shí)驗(yàn)室 > 集成電路/微電子器件中掃描電子顯微技術(shù)和電子束顯微分析檢測(cè)
樣品名稱:集成電路/微電子器件
檢測(cè)項(xiàng)目:掃描電子顯微技術(shù)和電子束顯微分析
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法5003 微電路的失效分析程序 GJB 548B-2005
所屬行業(yè)分類:電子電氣
標(biāo)簽: 掃描電子顯微技術(shù)和電子束顯微分析 集成電路/微電子器件