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樣品名稱(chēng):塑封微電子器件
檢測(cè)項(xiàng)目:外部目檢
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):軍用電子元器件破壞性物理分析方法 工作項(xiàng)目1103 GJB 4027A-2006
所屬行業(yè)分類(lèi):電子電氣
標(biāo)簽: 外部目檢 塑封微電子器件
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