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SPI Flash芯片輻射發射(RE)問題調試案例

嘉峪檢測網        2024-12-04 08:39

1、問題現象描述

 

某款產品在3米法電波暗室進行輻射(RE)發射測試時,發現多個頻點余量不滿足6dB管控要求,具體測試數據如下:

 

 

圖1:輻射發射測試數據

 

2、問題原因分析

 

通過頻譜分析儀近場探頭分析定位到干擾頻點來自于SPI Flash時鐘信號的高次諧波干擾,深入分析發現SPI Flash時鐘信號回流主芯片的參考地存在嚴重的分割情況,造成時鐘信號回流面積變大,引起輻射發射測試超標。

 

圖2:SPI Flash芯片PCB Layout圖(修改前)

 

3、問題解決方案

 

修改PCB Layout,調整SPI Flash時鐘信號參考地平面,使之參考地平面保持完整性,并優化SPI Flash芯片其它信號布線,時鐘信號兩側包地隔離串擾。

 

圖3:SPI Flash芯片PCB Layout圖(修改后)

 

PCB Layout修改后,回板重新測試輻射發射,其結果滿足6dB余量管控標準的要求,具體測試數據如下:

 

圖4:SPI Flash芯片供電電源引腳頻譜圖

 

4、案例思考與啟示

 

SPI Flash芯片時鐘信號工作頻率及高次諧波頻率的輻射發射問題,在電子產品中是經常遇到。大部分工程師首先想到的是降低信號幅度,增加濾波電路,費了九牛二虎之力發現效果還不理想,往往是求解無門。即使是增加濾波電路勉強解決輻射發射問題,回頭發現信號質量又不滿足設計要求,被問題搞的焦頭爛額,束手無策。

 

SPI Flash信號參考完整性的問題卻容易被工程師們忽略,保持時鐘信號參考完整性是解決輻射發射問題的殺手锏之一,本案例就深刻的詮釋是參考完整性的重要性,且能夠保證對策的低成本,還能夠信號的高質量。

 

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來源:Internet

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