您當(dāng)前的位置:首頁(yè) > 上海精密計(jì)量測(cè)試研究所 > 半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路中短路正向跨導(dǎo)gfs檢測(cè)
樣品名稱(chēng):半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路
檢測(cè)項(xiàng)目:短路正向跨導(dǎo)gfs
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):GB/T14030-1992 半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路測(cè)試方法的基本原理
所屬行業(yè)分類(lèi):電子電氣 > 電子元件檢測(cè) >
標(biāo)簽: 短路正向跨導(dǎo)gfs 半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路