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半導體集成電路時基電路中漏-源擊穿電壓V(BR)DSS檢測

  • 樣品名稱：半導體集成電路時基電路

  • 檢測項目：漏-源擊穿電壓V(BR)DSS

  • 認可資質：CNAS CMA

  • 檢測標準：GB/T14030-1992 半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理

  • 所屬行業分類：電子電氣 > 電子元件檢測 >

  • 標簽： 漏-源擊穿電壓V(BR)DSS 半導體集成電路時基電路

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