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波美度

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波美度(DegreeBaum′e) 采用玻璃管式浮計(jì)中的一種特殊分度方式的波美計(jì)所給出的值稱為波美度，符號(hào)為°B′e。用于間接地給出液體的密度。波美度測(cè)試儀器：波美度測(cè)試儀查看詳情>>

波美度

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波美度(DegreeBaum′e)

采用玻璃管式浮計(jì)中的一種特殊分度方式的波美計(jì)所給出的值稱為波美度，符號(hào)為°B′e。用于間接地給出液體的密度。

波美度測(cè)試儀器：波美度測(cè)試儀

檢測(cè)項(xiàng)目

波美度

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中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第二十七研究所計(jì)量檢測(cè)中心

檢測(cè)項(xiàng)：半功率波束寬度檢測(cè)樣品：微波天線標(biāo)準(zhǔn)：GJB3310-98 雷達(dá)天線分系統(tǒng)性能測(cè)試方法方向圖 SJ20884-2003 相控陣天線測(cè)試方法 GBT9410-2008移動(dòng)通信天線通用技術(shù)規(guī)范

檢測(cè)項(xiàng)：輸出功率平坦度檢測(cè)樣品：功率放大器標(biāo)準(zhǔn)：GJB3258-1998通信干擾功率放大器通用規(guī)范

檢測(cè)項(xiàng)：軸比檢測(cè)樣品：微波天線標(biāo)準(zhǔn)：GJB3071-97 雷達(dá)天線分系統(tǒng)性能測(cè)試方法極化、波束指向、收發(fā)隔離

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富士康（昆山）電腦接插件有限公司實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：輪廓的最大高度(Rz)、輪廓單元的平均寬度(Rsm)、輪廓的支承長(zhǎng)度率(Rmr(c) 檢測(cè)樣品：電子及電氣零組件標(biāo)準(zhǔn)：表面粗糙度參數(shù)及其數(shù)值 GB/T 1031-2009

檢測(cè)項(xiàng)：直線度、平面度、圓度、圓柱度、線輪廓度、面輪廓度、平行度、垂直度、傾斜度、位置度檢測(cè)樣品：電子及電氣零組件標(biāo)準(zhǔn)：形狀和位置公差檢測(cè)規(guī)定 GB 1958-2004

檢測(cè)項(xiàng)：瞬斷電試驗(yàn) 檢測(cè)樣品：電子及電氣零組件標(biāo)準(zhǔn)：電氣連接器及插座的低功率接觸阻抗測(cè)試程序 EIA-364-23C-2006(R2012)

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中捷通信有限公司檢測(cè)校準(zhǔn)中心

檢測(cè)項(xiàng)：駐波比檢測(cè)樣品：基站天線標(biāo)準(zhǔn)：移動(dòng)通信系統(tǒng)基站天線技術(shù)條件 YD/T 1059-2004

檢測(cè)項(xiàng)：標(biāo)稱最大輸出功率檢測(cè)樣品：CDMA直放站標(biāo)準(zhǔn)：800MHz/2GHz CDMA數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信網(wǎng) 模擬直放站技術(shù)要求和測(cè)試方法 YD/T 1596-2011

檢測(cè)項(xiàng)：光學(xué)特性檢測(cè)樣品：光功率分路器標(biāo)準(zhǔn)：平面光波導(dǎo)集成光路器件（第1 部分：基于平面光波導(dǎo)CPLC）的光功率分路器 YD/T 2000.1-2009 光纖藕合器技術(shù)條件 YD/T 893-1997 全光纖型分支器件技術(shù)條件 YD/T 1117-2001 平面光波導(dǎo)集成光路器件（第1 部分：基

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國(guó)家激光器件質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心

檢測(cè)項(xiàng)：輸出光功率不穩(wěn)定度檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體激光器標(biāo)準(zhǔn)：SJ2749-1987 半導(dǎo)體激光二極管測(cè)試方法 SJ20957-2006 大功率半導(dǎo)體激光二極管陣列通用規(guī)范 GB/T 15175-2012 固體激光器主要參數(shù)測(cè)試方法

檢測(cè)項(xiàng)：激光終端輸出穩(wěn)定度檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體激光器標(biāo)準(zhǔn)：SJ2749-1987 半導(dǎo)體激光二極管測(cè)試方法 SJ20957-2006 大功率半導(dǎo)體激光二極管陣列通用規(guī)范 GB/T 15175-2012 固體激光器主要參數(shù)測(cè)試方法

檢測(cè)項(xiàng)：輸出能量不穩(wěn)定度檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體激光器標(biāo)準(zhǔn)：SJ2749-1987 半導(dǎo)體激光二極管測(cè)試方法 SJ20957-2006 大功率半導(dǎo)體激光二極管陣列通用規(guī)范 GB/T 15175-2012 固體激光器主要參數(shù)測(cè)試方法

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吉林省醫(yī)療器械檢驗(yàn)所

檢測(cè)項(xiàng)：輸出激光功率不穩(wěn)定度檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體激光治療儀標(biāo)準(zhǔn)：GB 12257-2000《氦氖激光治療機(jī)通用技術(shù)條件》

檢測(cè)項(xiàng)：輸出激光功率檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體激光治療儀標(biāo)準(zhǔn)：GB 12257-2000《氦氖激光治療機(jī)通用技術(shù)條件》

檢測(cè)項(xiàng)：輸出功率復(fù)現(xiàn)性檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體激光治療儀標(biāo)準(zhǔn)：GB 12257-2000《氦氖激光治療機(jī)通用技術(shù)條件》

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湖北航天技術(shù)研究院計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所

檢測(cè)項(xiàng)：部分參數(shù) 檢測(cè)樣品：運(yùn)算（電壓）放大器標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路運(yùn)算(電壓)放大器測(cè)試方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

檢測(cè)項(xiàng)：穩(wěn)態(tài)功率檢測(cè)樣品：晶體管標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB 128A-1997

檢測(cè)項(xiàng)：功率老煉檢測(cè)樣品：晶體管標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件和集成電路第7部分：場(chǎng)效應(yīng)晶體管 GB/T 4587-1994

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深圳中認(rèn)通測(cè)檢驗(yàn)技術(shù)有限公司

檢測(cè)項(xiàng)：發(fā)射機(jī)天線波束寬度檢測(cè)樣品：工作在865 MHz 到 868 MHz的RF ID設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)：ETSI EN 302 208-1 V1.4.1 (2011-11) 電磁兼容性和無(wú)線電頻譜事項(xiàng)(ERM); 功率小于2W的工作在865 MHz 到 868 MHz射頻識(shí)別設(shè)備;第一部分：測(cè)試方法和要求. ETSI EN 302 208-2 V1.4.1

檢測(cè)項(xiàng)：載波功率檢測(cè)樣品：無(wú)線音頻設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)：RSS 123 issue 2: 2011-02 低功率無(wú)線電設(shè)備

檢測(cè)項(xiàng)：發(fā)射機(jī)輸出功率/有效輻射功率/有效輻射功率密度檢測(cè)樣品：工作在865 MHz 到 868 MHz的RF ID設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)：ETSI EN 302 208-1 V1.4.1 (2011-11) 電磁兼容性和無(wú)線電頻譜事項(xiàng)(ERM); 功率小于2W的工作在865 MHz 到 868 MHz射頻識(shí)別設(shè)備;第一部分：測(cè)試方法和要求. ETSI EN 302 208-2 V1.4.1

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國(guó)家無(wú)線電監(jiān)測(cè)中心檢測(cè)中心/天維訊達(dá)無(wú)線電設(shè)備檢測(cè)（北京）有限責(zé)任公司

檢測(cè)項(xiàng)：發(fā)射機(jī)天線波束寬度檢測(cè)樣品：射頻識(shí)別（RFID）設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)：電磁兼容性與無(wú)線頻譜特性(ERM)；功率不超過(guò)2W的工作在865MHz至868MHz頻段下的射頻識(shí)別設(shè)備；第2部分：歐洲協(xié)調(diào)標(biāo)準(zhǔn)，包含R&TTE指令條款3.2的基本要求 ETSI EN 302 208-2 V1.2.1 (2008-04)

檢測(cè)項(xiàng)：發(fā)射機(jī)天線波束寬度檢測(cè)樣品：射頻識(shí)別（RFID）設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)：美國(guó)聯(lián)邦通信委員會(huì)規(guī)定第15部分

檢測(cè)項(xiàng)：輸出功率穩(wěn)定度檢測(cè)樣品：衛(wèi)星地球站射頻單元標(biāo)準(zhǔn)：《中速數(shù)據(jù)數(shù)字業(yè)務(wù)衛(wèi)星系統(tǒng)操作指南》 SSOG308

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上海市計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究院（華東國(guó)家計(jì)量測(cè)試中心/中國(guó)上海測(cè)試中心）

檢測(cè)項(xiàng)：最大功率檢測(cè)樣品：**環(huán)境與生物樣品g放射性標(biāo)準(zhǔn)：用半導(dǎo)體γ譜儀分析低比活度γ放射性樣品的標(biāo)準(zhǔn)方法 GB 11713-89 放射性核素活度測(cè)量鍺γ譜儀法 EJ/T 1091-1999 建筑材料放射性核素限量 GB 6566-2010 土壤中放射性核素的γ能譜分析方法 GB 11743-89 生物樣

檢測(cè)項(xiàng)：全部項(xiàng)目檢測(cè)樣品：噪聲源聲功率級(jí) 標(biāo)準(zhǔn)：聲學(xué) 噪聲源聲功率級(jí)的測(cè)定消聲室和半消聲室精密法 GB/T 6882-2008 ISO 3745:2003 聲學(xué) 聲壓法測(cè)定噪聲源聲功率級(jí)混響室精密法 GB/T6881.1-2002 ISO 3741-2010 聲學(xué) 聲壓法測(cè)定噪聲源聲功率級(jí) 反射面上

檢測(cè)項(xiàng)：全部項(xiàng)目檢測(cè)樣品：噪聲源聲功率級(jí) 標(biāo)準(zhǔn)：聲學(xué) 噪聲源聲功率級(jí)和聲能量級(jí)的測(cè)定消聲室和半消聲室精密法 GB/T 6882-2008 ISO 3745:2012 聲學(xué) 聲壓法測(cè)定噪聲源聲功率級(jí)混響室精密法 GB/T6881.1-2002 ISO 3741-2010 聲學(xué) 聲壓法測(cè)定噪聲源聲功率級(jí)

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上海精密計(jì)量測(cè)試研究所

檢測(cè)項(xiàng)：封帽前目檢(功率金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管) 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體分立器件標(biāo)準(zhǔn)：GJB128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法

檢測(cè)項(xiàng)：封帽前目檢(功率金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管) 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體分立器件標(biāo)準(zhǔn)：GJB128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法

檢測(cè)項(xiàng)：功率Pw 檢測(cè)樣品：電壓基準(zhǔn) 標(biāo)準(zhǔn)：SJ50597/57-2003 半導(dǎo)體集成電路JW584 /JW584A可編程電壓基準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)范 SJ50597/54-2002 半導(dǎo)體集成電路JW431精密可調(diào)電壓基準(zhǔn)源詳細(xì)規(guī)范

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國(guó)家無(wú)線電監(jiān)測(cè)中心檢測(cè)中心/天維訊達(dá)無(wú)線電設(shè)備檢測(cè)（北京）有限責(zé)任公司

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