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杭州市質量技術監督檢測院

檢測項：部分參數 檢測樣品：半導體光電子器件 標準：《半導體器件 光電子器件分規范》GB/T12565-1990 《半導體光電子器件 小功率發光二極管空白詳細規范》 SJ/T11400-2009 《半導體光電子器件 功率發光二極管空白詳細規范》 SJ/T11393-2009

檢測項：部分參數 檢測樣品：半導體光電子器件 標準：《半導體器件 光電子器件分規范》GB/T12565-1990 《半導體光電子器件 小功率發光二極管空白詳細規范》 SJ/T11400-2009 《半導體光電子器件 功率發光二極管空白詳細規范》 SJ/T11393-2009

檢測項：全部參數 檢測樣品：半干淡鹽黃魚 標準：《半干淡鹽黃魚》 SC/T 3216-2006

機構所在地：浙江省杭州市 更多相關信息>>

北京青云航空儀表有限公司理化計量中心

檢測項：穩態功率 檢測樣品：晶體管 標準：半導體分立器件試驗方法GJB128A-1997 半導體器件 分立器件 第8部分：場效應晶體管 GB/T4586-1994

檢測項：穩態工作功率 檢測樣品：二極管 標準：半導體分立器件試驗方法GJB128A-1997

檢測項：輸入低電平電壓VIL 檢測樣品：半導體集成 電路 (CMOS) 標準：半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理SJ/T10741-2000

機構所在地：北京市 更多相關信息>>

深圳市中興通訊技術服務有限責任公司認證檢測事業部

檢測項：聲功率級的測定 檢測樣品：聲學測量 標準：GB/T 6882-2008 聲學 聲壓法測定噪聲源聲功率級 消聲室和半消聲室精密法

檢測項：聲功率級的測定 檢測樣品：聲學測量 標準：ISO 3745:2003 聲學 聲壓法測定噪聲源聲功率級 消聲室和半消聲室精密法

檢測項：聲功率級的測定 檢測樣品：聲學測量 標準：GB/T 6882-2008 聲學 聲壓法測定噪聲源聲功率級 消聲室和半消聲室精密法

機構所在地：廣東省深圳市 更多相關信息>>

上海三電貝洱汽車空調有限公司汽車空調試驗中心

檢測項：聲功率級 檢測樣品：儲液干燥器 標準：GB/T 6882-2008聲學 聲壓法測定噪聲源聲功率級 消聲室和半消聲室精密法

檢測項：聲功率級 檢測樣品：儲液干燥器 標準：聲學 聲壓法測定噪聲源聲功率級 消聲室和半消聲室精密法GB/T 6882-2008

機構所在地：上海市 更多相關信息>>

中國科學院半導體研究所照明檢測中心

檢測項：輸入功率、輸入電流和功率因數 檢測樣品：LED照明產品 標準：LED筒燈性能測量方法 GB/T 29293-2012

檢測項：輸入功率、輸入電流和功率因數 檢測樣品：LED照明產品 標準：LED筒燈性能要求 GB/T 29294-2012

檢測項：峰值發射波長、光譜帶寬、光譜功率分布 檢測樣品：發光二極管 標準：半導體發光二極管測試方法 SJ11394-2009

機構所在地：北京市 更多相關信息>>

陜西千山航空電子有限責任公司檢測中心

檢測項：電功率老化 檢測樣品：半導體分立器件 標準：半導體分立器件試驗方法GJB128A-97中方法1038、1039

檢測項：顆粒碰撞噪聲檢測 檢測樣品：半導體分立器件 標準：半導體分立器件試驗方法GJB128A-97中方法2052

檢測項：溫度循環 檢測樣品：半導體分立器件 標準：半導體分立器件試驗方法GJB128A-97中方法1051

機構所在地：陜西省西安市 更多相關信息>>

貴州航天計量測試技術研究所

檢測項：老煉和壽命試驗（功率場效應晶體管和絕緣柵雙極晶體管 檢測樣品：半導體分立器件 標準：《半導體分立器件試驗方法》GJB128A-1997

檢測項：頻率隨電壓穩定度（振蕩器）Sf 檢測樣品：脈寬調制器 標準：《半導體集成電路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脈寬調制器詳細規范》SJ 20294-1993

檢測項：芯片目檢（半導體二極管） 檢測樣品：半導體分立器件 標準：《半導體分立器件試驗方法》GJB128A-1997

機構所在地：貴州省貴陽市 更多相關信息>>

中國測試技術研究院

檢測項：輸出光功率 檢測樣品：半導體紅外發光二極管 標準：SJ 2658.6-1986 半導體紅外發光二極管測試方法

檢測項：消聲室、半消聲室 檢測樣品：建筑聲學 標準：GB/T 6882-2008 聲學 聲壓法測定噪聲源聲功率級 消聲室和半消聲室精密法

檢測項：輸出光功率 檢測樣品：半導體紅外發光二極管 標準：SJ 2658.6-1986 半導體紅外發光二極管測試方法

機構所在地：四川省成都市 更多相關信息>>

聯想（北京）有限公司可靠性實驗室

檢測項：噪聲 檢測樣品：微型計算機 標準：《聲學 聲壓法測定噪聲源聲功率級消聲室和半消聲室精密法》GB/T 6882-2008/ISO3745:2012

檢測項：噪聲 檢測樣品：微型計算機 標準：《聲學 聲壓法測定噪聲源聲功率級消聲室和半消聲室精密法》GB/T 6882-2008/ISO3745:2012

檢測項：系統靜電抗擾度試驗 檢測樣品：微型計算機 標準：《電磁兼容 試驗和測量技術 靜電放電抗擾度試驗》 GB/T 17626.2-2006

機構所在地：北京市 更多相關信息>>

湖南航天管理局計量檢測中心

檢測項：老煉 檢測樣品：半導體分立器件篩選 標準：半導體分立器件試驗方法 GJB128A-97

檢測項：老煉 檢測樣品：半導體分立器件篩選 標準：GJB128A-1997 半導體分立器件試驗方法

檢測項：開環電壓增益AVD 檢測樣品：半導體集成電路TTL電路 標準：SJ/T10735-1996 半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理

機構所在地：湖南省長沙市 更多相關信息>>