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光學弱視助視器產(chǎn)品描述:通常由光學系統(tǒng)(凸透鏡、凹透鏡、棱鏡和平面鏡等)組成。利用光學成像原理,幫助低視力者提高視覺活動水平。 光學弱視助視器預期用途:用于改變目標的大小,或改變目標在視網(wǎng)膜上的成像位置,幫助低視力者提高視覺活動水平。 光學弱視助視器品名舉例:光學弱視助視器、低視力放大鏡、低視力望遠鏡 光學弱視助視器管理類別:Ⅱ 光電弱視助...查看詳情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年05月06日
檢測項:準確度 檢測樣品:電荷放大器 標準:電荷放大器 通用技術條件JB/T 5458-1991
檢測項:振動 檢測樣品:電荷放大器 標準:可移式電動工具安全規(guī)范 第1部分:一般要求 EN61029-1:2009
檢測項:振動 檢測樣品:電荷放大器 標準:手持式電動工具安全規(guī)范 第1部分:一般要求EN 60745-1:2009
機構所在地:上海市 更多相關信息>>
檢測項:中心頻率誤差 檢測樣品:功率放大器 標準:GJB3258-1998通信干擾功率放大器通用規(guī)范
檢測項:靜態(tài)分辨力帶寬 檢測樣品:功率放大器 標準:GJB3258-1998通信干擾功率放大器通用規(guī)范
檢測項:噪聲邊帶 檢測樣品:功率放大器 標準:GJB3258-1998通信干擾功率放大器通用規(guī)范
機構所在地:河南省鄭州市 更多相關信息>>
檢測項:輸出低電平電壓VOL 檢測樣品:運算放大器 標準:《半導休集成電路運算(電壓)放大器測試方法的基本原理》SJ/T 10738-1996
檢測項:輸出高電平電流IOH 檢測樣品:運算放大器 標準:《半導休集成電路運算(電壓)放大器測試方法的基本原理》SJ/T 10738-1996
檢測項:輸出低電平電流IOL 檢測樣品:運算放大器 標準:《半導休集成電路運算(電壓)放大器測試方法的基本原理》SJ/T 10738-1996
機構所在地:貴州省貴陽市 更多相關信息>>
檢測項:正常工作條件下的發(fā)熱 檢測樣品:家庭影院用環(huán)繞聲放大器 標準:家庭影院用環(huán)繞聲放大器 通用規(guī)范 SJ/T 11217-2000
檢測項:防觸電的結構要求 檢測樣品:家庭影院用環(huán)繞聲放大器 標準:家庭影院用環(huán)繞聲放大器 通用規(guī)范 SJ/T 11217-2000
檢測項:正常工作條件下的觸電危險 檢測樣品:家庭影院用環(huán)繞聲放大器 標準:家庭影院用環(huán)繞聲放大器 通用規(guī)范 SJ/T 11217-2000
機構所在地:云南省昆明市 更多相關信息>>
檢測項:短路電流 檢測樣品:運算 放大器 標準:半導體集成電路運算放大器測試方法基本原理 SJ/T10738-1996
檢測項:開環(huán)增益AVO 檢測樣品:運算 放大器 標準:半導體集成電路運算放大器測試方法基本原理 SJ/T10738-1996
機構所在地:北京市 更多相關信息>>
檢測項:復位觸發(fā)電流IR 檢測樣品:半導體集成電路運算放大器 標準:SJ/T10738-1996 半導體集成電路運算(電壓)放大器測試方法的基本原理
檢測項:觸發(fā)電壓VTR 檢測樣品:半導體集成電路運算放大器 標準:SJ/T10738-1996 半導體集成電路運算(電壓)放大器測試方法的基本原理
檢測項:觸發(fā)電流ITR 檢測樣品:半導體集成電路運算放大器 標準:SJ/T10738-1996 半導體集成電路運算(電壓)放大器測試方法的基本原理
檢測項:部分參數(shù) 檢測樣品:聲頻功率放大器 標準:聲頻功率放大器通用技術條件 SJ/T 10406-1993
檢測項:部分參數(shù) 檢測樣品:聲頻功率放大器 標準:聲系統(tǒng)設備 第3部分:聲頻放大器測量方法 GB/T 12060.3-2011 IEC 60268-3:2000
檢測項:全部參數(shù) 檢測樣品:聲頻功率放大器 標準:汽車收、放、擴音機分類與基本參數(shù) SJ/T 10447-1993
機構所在地:天津市 更多相關信息>>
檢測項:電壓(幅度) 檢測樣品:微波放大器 標準:SJ 20427-94 《微波寬帶放大器通用規(guī)范》
檢測項:平坦度 檢測樣品:微波放大器 標準:SJ 20427-94 《微波寬帶放大器通用規(guī)范》
檢測項:增益 檢測樣品:微波放大器 標準:SJ 20427-94 《微波寬帶放大器通用規(guī)范》
機構所在地:四川省綿陽市 更多相關信息>>
檢測項:靜態(tài)參數(shù) 檢測樣品:運算(電壓)放大器 標準:半導體集成電路運算(電壓)放大器測試方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
檢測項:動態(tài)參數(shù) 檢測樣品:運算(電壓)放大器 標準:半導體集成電路運算(電壓)放大器測試方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
檢測項:靜態(tài)參數(shù) 檢測樣品:采樣/保持放大器 標準:半導體集成電路采樣/保持放大器測試方法的基本原理 GB/T 14115-1993 半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T 10735-1996;
機構所在地:湖北省孝感市 更多相關信息>>
檢測項:部分項目 檢測樣品:聲頻功率放大器 標準:聲頻功率放大器通用技術條件 SJ/T 10406-1993
機構所在地:河北省石家莊市 更多相關信息>>
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