您當(dāng)前的位置:首頁(yè) > 衰減與放大
光學(xué)弱視助視器產(chǎn)品描述:通常由光學(xué)系統(tǒng)(凸透鏡、凹透鏡、棱鏡和平面鏡等)組成。利用光學(xué)成像原理,幫助低視力者提高視覺活動(dòng)水平。 光學(xué)弱視助視器預(yù)期用途:用于改變目標(biāo)的大小,或改變目標(biāo)在視網(wǎng)膜上的成像位置,幫助低視力者提高視覺活動(dòng)水平。 光學(xué)弱視助視器品名舉例:光學(xué)弱視助視器、低視力放大鏡、低視力望遠(yuǎn)鏡 光學(xué)弱視助視器管理類別:Ⅱ 光電弱視助...查看詳情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年05月06日
檢測(cè)項(xiàng):放大檢查 檢測(cè)樣品:珠寶玉石 標(biāo)準(zhǔn):珠寶玉石 鑒定 GB/ T16553-2010
檢測(cè)項(xiàng):放大檢查 檢測(cè)樣品:珠寶玉石 標(biāo)準(zhǔn):珠寶玉石 鑒定 GB/T 16553-2010
機(jī)構(gòu)所在地:河南省鄭州市
檢測(cè)項(xiàng):放大檢查 檢測(cè)樣品:珠寶玉石及其飾品 標(biāo)準(zhǔn):珠寶玉石 鑒定GB/T16553-2010
檢測(cè)項(xiàng):放大檢查 檢測(cè)樣品:珠寶玉石及其飾品 標(biāo)準(zhǔn):珠寶玉石 鑒定GB/T16553-2010
機(jī)構(gòu)所在地:廣東省深圳市
機(jī)構(gòu)所在地:湖北省武漢市
檢測(cè)項(xiàng):放大檢查 檢測(cè)樣品:珠寶玉石檢測(cè) 標(biāo)準(zhǔn):珠寶玉石 名稱GB/T 16552-2010 珠寶玉石 鑒定GB/T 16553-2010
機(jī)構(gòu)所在地:北京市
檢測(cè)項(xiàng):放大檢查 檢測(cè)樣品:珠寶玉石 標(biāo)準(zhǔn):珠寶玉石鑒定GB/T 16553-2010 珠寶玉石名稱GB/T16552-2010
機(jī)構(gòu)所在地:北京市
檢測(cè)項(xiàng):放大檢查 檢測(cè)樣品:貴金屬首飾 標(biāo)準(zhǔn):《貴金屬含量的檢定 X射線熒光光譜法》 GB/T18043-2008
檢測(cè)項(xiàng):放大檢查 檢測(cè)樣品:貴金屬首飾 標(biāo)準(zhǔn):《首飾 貴金屬含量的測(cè)定 X射線熒光光譜法》 GB/T18043-2008
機(jī)構(gòu)所在地:廣西壯族自治區(qū)北海市
檢測(cè)項(xiàng):放大檢查 檢測(cè)樣品:珠寶玉石 及其飾品 標(biāo)準(zhǔn):只測(cè)鑲嵌鉆石
機(jī)構(gòu)所在地:河北省唐山市
檢測(cè)項(xiàng):放大檢查 檢測(cè)樣品:珠寶玉石 標(biāo)準(zhǔn):珠寶玉石 鑒定 GB/T 16553-2010
機(jī)構(gòu)所在地:廣東省深圳市
檢測(cè)項(xiàng):放大檢查 檢測(cè)樣品:淡水珍珠 標(biāo)準(zhǔn):《珠寶玉石 名稱》 GB/T16552-2010 《珠寶玉石 鑒定》 GB/T16553-2010
檢測(cè)項(xiàng):放大檢查 檢測(cè)樣品:貴金屬首飾 標(biāo)準(zhǔn):《首飾 貴金屬含量的測(cè)定 X射線熒光光譜法》 GB/T 18043-2013
機(jī)構(gòu)所在地:浙江省諸暨市
檢測(cè)項(xiàng):放大檢查 檢測(cè)樣品:珠寶玉石 標(biāo)準(zhǔn):珠寶玉石 鑒定GB/T 16553-2010
機(jī)構(gòu)所在地:云南省保山市