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光學(xué)弱視助視器產(chǎn)品描述:通常由光學(xué)系統(tǒng)(凸透鏡、凹透鏡、棱鏡和平面鏡等)組成。利用光學(xué)成像原理,幫助低視力者提高視覺活動水平。 光學(xué)弱視助視器預(yù)期用途:用于改變目標的大小,或改變目標在視網(wǎng)膜上的成像位置,幫助低視力者提高視覺活動水平。 光學(xué)弱視助視器品名舉例:光學(xué)弱視助視器、低視力放大鏡、低視力望遠鏡 光學(xué)弱視助視器管理類別:Ⅱ 光電弱視助...查看詳情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年05月06日
檢測項:差分輸入線性放大器的輸入失調(diào)電壓和單端輸入放大器的偏置電壓 檢測樣品:CMOS集成電路 標準:半導(dǎo)體器件 集成電路 第3部分:模擬集成電路 GB/T 17940-2000
檢測項:差分輸入線性放大器的輸入失調(diào)電壓和單端輸入放大器的偏置電壓 檢測樣品:RF器件 標準:半導(dǎo)體器件 集成電路 第3部分:模擬集成電路 GB/T 17940-2000
檢測項:開環(huán)電壓放大倍數(shù) 檢測樣品:CMOS集成電路 標準:半導(dǎo)體器件 集成電路 第3部分:模擬集成電路 GB/T 17940-2000
機構(gòu)所在地:上海市
檢測項:漏極截止電流IDSS 檢測樣品:半導(dǎo)體集成電路運算放大器 標準:SJ/T10738-1996 半導(dǎo)體集成電路運算(電壓) 放大器測試方法的基本原理
檢測項:柵-源閾值電壓VGS(th) 檢測樣品:半導(dǎo)體集成電路運算放大器 標準:SJ/T10738-1996 半導(dǎo)體集成電路運算(電壓) 放大器測試方法的基本原理
檢測項:輸入失調(diào)電壓VIO 檢測樣品:半導(dǎo)體集成電路運算放大器 標準:SJ/T10738-1996 半導(dǎo)體集成電路運算(電壓) 放大器測試方法的基本原理
機構(gòu)所在地:湖南省長沙市
檢測項:全部參數(shù)(電性能測試) 檢測樣品:旋轉(zhuǎn)變壓器功率放大器 標準:《電子轉(zhuǎn)換模塊旋轉(zhuǎn)變壓器功率放大器詳細規(guī)范》 CB1231.7-93
機構(gòu)所在地:江蘇省連云港市
檢測項:部分項目 檢測樣品:聲頻功率放大器(有源音箱) 標準:聲系統(tǒng)設(shè)備第3部分:聲頻放大器測量方法 GB/T 12060.3-2011 /IEC60268-3:2000
檢測項:部分項目 檢測樣品:聲頻功率放大器(有源音箱) 標準:聲系統(tǒng)設(shè)備第3部分:聲頻放大器測量方法 GB/T 12060.3-2011 /IEC60268-3:2000
機構(gòu)所在地:上海市
機構(gòu)所在地:四川省成都市
檢測項:占用帶寬 檢測樣品:CDMA基站放大器 標準:TIA/EIA/IS-97A《CDMA基站最小性能指標》
檢測項:占用帶寬 檢測樣品:CDMA基站放大器 標準:TIA/EIA/IS-97A《CDMA基站最小性能指標》
檢測項:頻率容限 檢測樣品:CDMA基站放大器 標準:《CDMA基站最小性能指標》 TIA/EIA/IS-97A
機構(gòu)所在地:北京市
檢測項:放大檢查 檢測樣品:珠寶玉石 標準:珠寶玉石 鑒定GB/T16553-2010
檢測項:放大檢查 檢測樣品:翡翠 標準:珠寶玉石 名稱GB/T16552-2010
檢測項:放大檢查 檢測樣品:鉆石 標準:珠寶玉石 名稱GB/T16552-2010
機構(gòu)所在地:云南省昆明市