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動態(tài)心電圖系統(tǒng)中增益設(shè)置與切換的檢測

檢測項：增益設(shè)置與切換 檢測樣品：動態(tài)心電圖系統(tǒng) 標準：醫(yī)用電氣設(shè)備 第2-47部分：動態(tài)心電圖系統(tǒng)的基本安全和基本性能專用要求 IEC 60601-2-47:2012 201.12.4.4.111

檢測機構(gòu)：醫(yī)療器械檢測研究院 更多相關(guān)信息>>

動態(tài)心電圖系統(tǒng)中增益設(shè)置與切換的檢測

檢測項：增益設(shè)置與切換 檢測樣品：動態(tài)心電圖系統(tǒng) 標準：醫(yī)用電氣設(shè)備 第2-47部分：動態(tài)心電圖系統(tǒng)的基本安全和基本性能專用要求 IEC 60601-2-47:2012 201.12.4.4.111

檢測機構(gòu)：醫(yī)藥醫(yī)療器械檢測中心 更多相關(guān)信息>>

北斗衛(wèi)星導航系統(tǒng)民用全球信號多模多頻高精度天線產(chǎn)品中極化增益的檢測

檢測項：極化增益 檢測樣品：北斗衛(wèi)星導航系統(tǒng)民用全球信號多模多頻高精度天線產(chǎn)品 標準：BDS-JSCS-2021-004 北斗衛(wèi)星導航系統(tǒng)民用全球信號多模多頻高精度天線產(chǎn)品技術(shù)要求和測試方法

檢測機構(gòu)：國家電子電器產(chǎn)品檢測中心 更多相關(guān)信息>>

廳堂擴聲特性中傳聲增益的檢測

檢測項：傳聲增益 檢測樣品：廳堂擴聲特性 標準：GB/T4959-2011 廳堂擴聲特性測量方法

檢測機構(gòu)：國家材料分析檢測中心 更多相關(guān)信息>>

模擬集成電路中開環(huán)電壓增益的檢測

檢測項：開環(huán)電壓增益 檢測樣品：模擬集成電路 標準：《半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理》 GB/T6798-1996 《半導體集成電路運算（電壓）放大器測試方法的基本原理》 GB3442-1994

檢測機構(gòu)：國家機械電子產(chǎn)品環(huán)境與可靠性質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心 更多相關(guān)信息>>

A/D轉(zhuǎn)換器中增益誤差的檢測

檢測項：增益誤差 檢測樣品：A/D轉(zhuǎn)換器 標準：集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理SJ20961-2006

檢測機構(gòu)：中國航天科技集團公司檢測中心 更多相關(guān)信息>>

中達電子（江蘇）有限公司分析實驗室

檢測項：VGS(off): 柵-源截止電壓/VGS(th):閾值電壓 檢測樣品：電子電氣產(chǎn)品 標準：電子電氣產(chǎn)品中限用的六種物質(zhì)（鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯(lián)苯、多溴聯(lián)苯醚）的測定IEC 62321 -2008

檢測項：VFM: 正向峰值電壓 檢測樣品：雙極型晶體管 標準：半導體器件 分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)

檢測項：V(BR)DS*:崩潰電壓 檢測樣品：場效應晶體管 標準：半導體器件 分立器件和集成電路 第8部分:場效應晶體管IEC 60747-8(第三版 2010-12)

機構(gòu)所在地： 更多相關(guān)信息>>

上海精密計量測試研究所

檢測項：環(huán)路增益Avo 檢測樣品：模擬乘法器 標準：GB/T 14029-1992 半導體集成電路模擬乘法器測試方法的基本原理

檢測項：環(huán)路增益Avo 檢測樣品：模擬乘法器 標準：GB/T 14029-1992 半導體集成電路模擬乘法器測試方法的基本原理

檢測項：增益 檢測樣品： 標準：GJB 1707A-2005 相位噪聲測試方法

機構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

北京尊冠科技有限公司

檢測項：開環(huán)電壓增益AVO 檢測樣品：運算放大器 標準：GB/T17940-2000 《半導體器件 集成電路 第3部分:模擬集成電路》

檢測項：開環(huán)電壓增益AVD 檢測樣品：電壓比較器 標準：GB/T 6798－1996《半導體集成電路 電壓比較器測試方法的基本原理》

機構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

北京振興計量測試研究所

檢測項：開環(huán)增益AVO 檢測樣品：運算 放大器 標準：半導體集成電路運算放大器測試方法基本原理 SJ/T10738-1996

檢測項：接收增益 檢測樣品：微波 收發(fā)組件 標準：微波元器件性能測試方法 GJB 2650-1996

檢測項：增益誤差EG 檢測樣品：A/D、D/A轉(zhuǎn)換器 標準：半導體集成非線性電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器和模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ/T10818-1996

機構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>