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集成電路測試方法研究（80頁）

• 資料介紹

  集成電路測試方法研究（80頁）

  目錄

  摘要

  序言
  1.1 背景及其意義
  1.2 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀
  1.3 本文的主要內(nèi)容
  2 集成電路可測試性設(shè)計的基本概念
  2.1 DFT 的基本概念
  2.2 DFT 的常用方法
  2.3 系統(tǒng)芯片與IP 核
  2.4 自動測試設(shè)備（ATE）
  2.5 集成電路可測試性設(shè)計的挑戰(zhàn)
  3 邊界掃描測試方法
  3.1 邊界掃描基本狀況
  3.2 IEEE Std 1149.1
  3.3 IEEE Std 1149.4
  3.4 IEEE Std 1149.5
  3.5 IEEE Std 1149.6
  3.6 邊界掃描測試的發(fā)展前景
  3.7 本章小結(jié)
  4 全掃描可測試性實現(xiàn)方法
  4.1 為什么需要掃描測試
  4.2 可掃描單元類型
  4.3 如何提高故障覆蓋率
  4.4 一個實現(xiàn)實例
  4.5 本章小結(jié)
  5 集成電路的低功耗DFT方法
  5.1 測試模式下功耗比較高的原因
  5.2 基于掃描設(shè)計的低功耗DFT 方法
  5.3 基于非掃描設(shè)計的低功耗DFT 方法
  5.4 本章小結(jié)
  6 測試調(diào)度問題
  6.1 為測試調(diào)度問題建立數(shù)學(xué)模型
  6.2 解析測試基準(zhǔn)電路ITC’02
  6.3 測試調(diào)度算法
  6.4 實驗數(shù)據(jù)的構(gòu)造
  6.5 實驗結(jié)果與分析
  6.6 本章小結(jié)
  7 總結(jié)與展望
  7.1 總結(jié)
  7.2 本文的創(chuàng)新點
  7.3 展望
  參考文獻(xiàn)
  附錄1 一個測試基準(zhǔn)舉例
   

• 資料大小：
  1863.71KB
• 所屬類別：
  科研開發(fā)
• 更新日期：
  2024-08-10
• 適用行業(yè)：
  電子電氣
• 上傳人：
  tcwang
• 標(biāo) 簽：

  集成電路

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