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集成電路IC測試方法研究.doc(80頁)
1 序言
2 集成電路可測試性設計的基本概念
3 邊界掃描測試方法
4 全掃描可測試性實現方法
5 集成電路的低功耗DFT方法
6 測試調度問題
7 總結與展望
集成電路 IC測試
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