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芯片故障模式與測試方法培訓PPT(31頁)
主要內容:
芯片測試的意義 晶圓片上的污染 失效率隨芯片面積的增加而提高 黑盒測試 故障模型 硬橋接故障 參數故障(弱橋接) 晶體管故障 組合電路的測試模板 時序電路 掃描路徑 測試能力設計(DFT,design for testability) 邊界掃描 TAP控制器 IDDQ測試 芯片可靠性
芯片 芯片故障
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