您當前的位置:首頁 > 電子元器件(物理試驗)
一次性使用無菌采樣拭子產(chǎn)品描述:通常由試管、試管塞、拭子和/或刷等組成。無菌提供。 一次性使用無菌采樣拭子預期用途:用于樣本的收集、運輸和儲存等。 一次性使用無菌采樣拭子品名舉例:無菌樣本采樣拭子、一次性使用無菌微生物拭子、一次性使用無菌采樣拭子 一次性使用無菌采樣拭子管理類別:Ⅱ 一次性使用無菌采樣拭子審評要點: 1、口咽部新型冠...查看詳情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月31日
機構(gòu)所在地:廣東省深圳市
檢測項:聲學掃描顯微鏡檢查 檢測樣品:數(shù)控機床 標準:軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006 項目1103/2.4
檢測項:高低溫測試 檢測樣品:電子元器件試驗 標準:微電子器件試驗方法和程序 GJB 548B-2005 方法5004.2篩選程序
機構(gòu)所在地:湖北省孝感市
檢測項:輸入失調(diào)電流 檢測樣品:電子元器件 標準:微電路試驗方法和程序GJB 548B-2005
檢測項:輸入偏置電流 檢測樣品:電子元器件 標準:微電路試驗方法和程序GJB 548B-2005
檢測項:靜態(tài)功耗 檢測樣品:電子元器件 標準:微電路試驗方法和程序GJB 548B-2005
機構(gòu)所在地:四川省成都市
機構(gòu)所在地:北京市
機構(gòu)所在地:北京市