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血糖及血糖相關參數分析儀器

簡介

血糖及血糖相關參數分析儀器

簡介

血糖及血糖相關參數分析儀器產品描述：通常由主機模塊、電源模塊、軟件模塊等組成。原理一般為電化學法、光反射技術、比色法等。不包含采血器具及適配試劑。

血糖及血糖相關參數分析儀器預期用途：與適配試劑配合使用，用于人體樣本中待測物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相關參數分析儀器品名舉例：血糖分析儀、血糖/尿酸/總膽固醇分析儀、血糖/總膽固醇分析儀、血糖血壓測試儀、血糖與血脂監測儀、血糖血酮儀、血酮體測試儀、葡萄糖/乳酸分析儀、尿酸/血糖分析儀、血脂/血糖分析儀、血糖/膽固醇兩用檢測儀、血糖/膽固醇/甘油三酯/乳酸分析儀、血脂分析儀

血糖及血糖相關參數分析儀器管理類別：Ⅱ

血糖及血糖相關參數分析儀器相關指導原則：
1、血糖儀注冊技術審查指導原則
2、自測用血糖監測系統注冊申報資料指導原則

血糖及血糖相關參數分析儀器相關標準：
1、YY/T 1549-2017 生化分析儀用校準物下載2、YY/T 1662-2019 生化分析儀用質控物

血糖及血糖相關參數分析儀器相關檢測項目：
1 . 外觀《體外診斷檢驗系統自測用血糖檢測系統通用技術條件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖儀和血糖試條測量重復性《體外診斷檢驗系統自測用血糖檢測系統通用技術條件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖儀和血糖試條系統準確度《體外診斷檢驗系統自測用血糖檢測系統通用技術條件： GB/T 19634-2021》
4 . 紅細胞壓積《體外診斷檢驗系統自測用血糖檢測系統通用技術條件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖試條批間差《體外診斷檢驗系統自測用血糖檢測系統通用技術條件： GB/T 19634-2021》
6 . 質控物質《體外診斷檢驗系統自測用血糖檢測系統通用技術條件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖儀環境試驗《體外診斷檢驗系統自測用血糖檢測系統通用技術條件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖儀安全要求《體外診斷檢驗系統自測用血糖檢測系統通用技術條件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

搜索條件所在地區: 所屬類別:

中國航空綜合技術研究所航空綜合環境航空科技重點實驗室

檢測項：外部檢查檢測樣品：電子元器件標準：GJB3157-1998《半導體分立器件失效分析方法與程序》

檢測項：外部檢查檢測樣品：電子元器件標準：GJB3233-1998《半導體集成電路失效分析程序和方法》

檢測項：內部檢查檢測樣品：電子元器件標準：GJB3157-1998《半導體分立器件失效分析方法與程序》

機構所在地：北京市更多相關信息>>

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臺表科技（蘇州）電子有限公司實驗室

檢測項：微觀切片檢測樣品：電子電氣產品失效分析標準：試驗方法手冊 2.1.1切片 IPC-TM-650-2004E

檢測項：電子探針和X射線能譜定量分析元素含量實驗檢測樣品：電子電氣產品失效分析標準：電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則 GB/T 17359-1998

檢測項：可焊性試驗檢測樣品：電子電氣產品失效分析標準：軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006

機構所在地：江蘇省吳江市更多相關信息>>

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恩斯邁電子（深圳）有限公司檢測中心

檢測項：合金粉粒度與大小分布檢測樣品：電子電氣產品（失效分析）標準：焊錫膏 JIS Z 3284-1994 附件1之2.2

檢測項：合金粉粒度與大小分布檢測樣品：電子電氣產品（失效分析）標準：焊錫膏 JIS Z 3284-1994 附件1之2.2

檢測項：金屬含量（錫、銀、銅）檢測樣品：電子電氣產品（失效分析）標準：電子設備用電子級錫焊合金、帶焊劑及不帶焊劑整體焊料技術要求 IPC J-STD-006: 1995

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惠州科銳半導體照明有限公司光電實驗室

檢測項：外部檢查檢測樣品：發光二極管 (LED) 標準：微電路失效分析程序 MIL-STD-883J方法5003

檢測項：成分定量分析檢測樣品：固體材料/液體材料 (環氧樹脂) 標準：微束分析能譜法定量分析 GB/T 17359-2012

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北京圣濤平試驗工程技術研究院有限責任公司中心實驗室

檢測項：鑒定試驗檢測樣品：元器件破壞性物理分析標準：1、《軍用電子元器件破壞性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各種質量等級軍用半導體器件破壞性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半導體集成電路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半導體分立器件失效分析方法和程序》

檢測項：質量一致性試驗檢測樣品：元器件破壞性物理分析標準：1、《軍用電子元器件破壞性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各種質量等級軍用半導體器件破壞性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半導體集成電路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半導體分立器件失效分析方法和程序》

檢測項：部分項目檢測樣品：元器件破壞性物理分析標準：1、《軍用電子元器件破壞性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各種質量等級軍用半導體器件破壞性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半導體集成電路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半導體分立器件失效分析方法和程序》

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上海儀器儀表自控系統檢驗測試所

檢測項：靜電放電抗擾度試驗檢測樣品：信息技術設備；家用電器；電信設備；聲音和電視廣播設備；工科醫設備；照明燈具和其它電子設備標準：系統可靠性分析技術失效模式和效應分析(FMEA)程序 GB/T 7826-1987

檢測項：可靠性設計評定檢測樣品：儀器儀表、電工電子、軍用產品標準：故障模式、影響及危害分析程序 GJB 1391–2006

檢測項：靜電放電抗擾度試驗檢測樣品：信息技術設備；家用電器；電信設備；聲音和電視廣播設備；工科醫設備；照明燈具和其它電子設備標準：故障樹分析程序 GB/T 7829-1987

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亞旭電子科技（江蘇）有限公司零件工程實驗室

檢測項：掃描電子顯微技術和電子束顯微分析檢測樣品：電阻器/電容器標準：微電子器件試驗方法和程序方法5003 微電路的失效分析程序 GJB 548B-2005

檢測項：閾值試驗檢測樣品：集成電路/微電子器件標準：微電子器件試驗方法和程序方法5003 微電路的失效分析程序 GJB 548B-2005

檢測項：外殼絕緣檢測樣品：集成電路/微電子器件標準：微電子器件試驗方法和程序方法5003 微電路的失效分析程序 GJB 548B-2005

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中興通訊股份有限公司材料實驗室

檢測項：細檢漏檢測樣品：微電子器件標準：微電子器件試驗方法和程序微電路的失效分析程序 GJB 548B－2005

檢測項：細檢漏檢測樣品：微電子器件標準：微電子器件試驗方法和程序微電路的失效分析程序 GJB 548B－2005

檢測項：能譜分析檢測樣品：PCBA 標準：微束分析能譜法定量分析 GB/T 17359-2012

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萊茵技術監護（深圳）有限公司

檢測項：通訊失效分析檢測樣品：鋰電池標準：關于電池系統符合IEEE1625認證的要求Revision 1.5

檢測項：失效分析檢測樣品：鋰電池標準：關于電池系統符合IEEE1725的認證要求Revision 2.2

檢測項：通訊失效分析檢測樣品：鋰電池標準：聯合國《關于危險貨物運輸的建議書試驗和標準手冊》 ST/SG/AC.10/11/Rev.5 38.3試驗IEEE 1625-2008 IEEE關于筆記本電腦用可充電電池的標準IEEE 1725-2011 IEEE關于移動電話用可充電電池的標準關于電池系統

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北京玻璃鋼研究設計院有限公司檢測中心

檢測項：纖維增強塑料短時水壓失效壓力檢測樣品：復合材料標準：GB/T5351-2005《纖維增強熱固性塑料管短時水壓失效壓力試驗方法》

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