您當前的位置:首頁 > 椅凳類主要尺寸
一、晶粒尺寸概述 當我們考慮一種 多晶材料 的性能時,總會去測定其晶粒尺寸。就這一點而言,存在一些通過平均晶粒體積、直徑或面積進行晶粒尺寸測定的方法。晶粒尺寸可通過如下所述的截距法進行估算。在幾張不同的顯示處晶粒結構的顯微照片上畫出具有相同長度的直線段。統計出被每條直線橫穿的晶粒的數量并計算出被所有線段穿過的晶粒平均數,然后用線段的長度除以該平均數。將上述...查看詳情>>
一、晶粒尺寸概述
當我們考慮一種多晶材料的性能時,總會去測定其晶粒尺寸。就這一點而言,存在一些通過平均晶粒體積、直徑或面積進行晶粒尺寸測定的方法。晶粒尺寸可通過如下所述的截距法進行估算。在幾張不同的顯示處晶粒結構的顯微照片上畫出具有相同長度的直線段。統計出被每條直線橫穿的晶粒的數量并計算出被所有線段穿過的晶粒平均數,然后用線段的長度除以該平均數。將上述步驟獲得的結果除以顯微照片的線性放大率,即可估算得到的平均的晶粒直徑。然而,也許最常用的方法是由美國材料與試驗協會所涉及的方法,該ASTM提供了幾種具有不同平均晶粒尺寸的標準對比圖。每個晶粒尺寸均被分配了一個1~10的號碼,我們稱為晶粒度。為了顯示出晶粒結構,材料樣品必須經過合理的處理,并在100×的放大倍數下進行拍照。晶粒尺寸則由于標準圖中最為相近的晶粒所對應的晶粒度進行表示。因此,我們可以對晶粒度進行一個相對簡單和方便的視覺測定。晶粒度廣泛定義鋼的規格。對這些不同的晶粒圖制定相應的晶粒度,其背后是有一定基本原理的。現在讓我們用n表示晶粒度,N表示放大100×后沒平方英寸的平均晶粒數。這兩個參數之間的關系可通過以下表達式進行描述:
N=2n-1
二、晶粒尺寸測定
通過截距法測量晶粒大小時,先在顯微照片上畫出一系列直線度。然后用線段長度除以與每條線段穿過晶粒的平均數。該計算結果除以顯微照片的放大倍數即得平均晶粒尺寸。通過將顯微照片與ASTM標準圖進行比對可得到晶粒度并用以表征晶粒大小。放大倍數100×的顯微照片上每平方英寸的晶粒平均數與晶粒度間的關系N=2n-1。
三、晶粒尺寸測試標準
1 GB/T 3488.2-2018 硬質合金 顯微組織的金相測定 第2部分:WC晶粒尺寸的測量
2 GB/T 31568-2015 熱噴涂熱障ZrO2涂層晶粒尺寸的測定 謝樂公式法
3 GB/T 23413-2009 納米材料晶粒尺寸及微觀應變的測定X射線衍射線寬化法
收起百科↑ 最近更新:2018年09月10日
檢測項:機械物理性能 檢測樣品:兒童高腳椅 標準:高腳椅的消費者安全標準規范 ASTM F404-2010
檢測項:部分參數 檢測樣品:兒童高腳椅 標準:高腳椅的消費者安全標準規范 ASTM F404-10
機構所在地:廣東省東莞市
檢測項:高、低溫 變化試驗 (溫度改 變試驗) 檢測樣品:電子電氣產品 標準:IEC 60068-2-31-2008《基本環境試驗規程.第2部分:試驗.試驗Ec:跌落和傾倒.主要用于整機試驗》
機構所在地:北京市
機構所在地:廣東省深圳市
檢測項:*恒定濕熱加速試驗 檢測樣品:電工電子產品 標準:電工電子產品環境試驗 第2部分試驗方法 試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗 GB/T 2423.50-1999 IEC 68-
檢測項:*振動(正弦) 檢測樣品:電工電子產品 標準:環境試驗 第2-31部分:試驗方法 試驗Ec和導則傾跌與翻倒(主要用于設備型樣品) IEC 60068-2-31:2008
檢測項:*傾跌與翻倒 檢測樣品:電工電子產品 標準:電工電子產品環境試驗 第2部分試驗方法 試驗Ec和導則傾跌與翻倒(主要用于設備型樣品) GB/T 2423.7-1995 IEC 68-2-31
機構所在地:上海市
檢測項:轎廂尺寸 檢測樣品:雜物電梯 標準:1.TSG T7006-2012《電梯監督檢驗和定期檢驗規則—雜物電梯》 2.GB 25194-2010 《雜物電梯制造與安裝安全規范》
機構所在地:廣東省廣州市