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樣品名稱:半導(dǎo)體 集成電路
檢測項目:最高額定工作 溫度下的功能試驗
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗方法和程序 GJB548A-1996 微電子器件試驗方法和程序 GJB548B-2005 微電子器件試驗方法標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-883G-2006
所屬行業(yè)分類:
標(biāo)簽: 最高額定工作 溫度下的功能試驗 半導(dǎo)體 集成電路