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半導體 集成電路中最低額定工作 溫度下的功能試驗檢測

  • 樣品名稱:半導體 集成電路

  • 檢測項目:最低額定工作 溫度下的功能試驗

  • 認可資質:CNAS CMA

  • 檢測標準:微電子器件試驗方法和程序 GJB548A-1996  微電子器件試驗方法和程序 GJB548B-2005  微電子器件試驗方法標準 MIL-STD-883G-2006

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  • 標簽: 最低額定工作 溫度下的功能試驗 半導體 集成電路

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