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中國電子科技集團公司第五十八研究所檢測中心
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樣品名稱：半導體 集成電路
檢測項目：最低額定工作 溫度下的開關試驗
認可資質：CNAS CMA
檢測標準：微電子器件試驗方法和程序 GJB548A-1996 微電子器件試驗方法和程序 GJB548B-2005 微電子器件試驗方法標準 MIL-STD-883G-2006
所屬行業分類：
標簽： 最低額定工作 溫度下的開關試驗 半導體 集成電路
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