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厚度

簡介

鍍層/涂層厚度簡介厚度是衡量電鍍層/涂層品質的重要指標之一，它直接影響鍍件的耐蝕性、裝配導電性以至產品的可靠性。鍍層厚度測試檢測材料表面的金屬和氧化物覆層的厚度測試。鍍層厚度檢測方法鍍層厚度測定方法分無損法和破壞法。鍍層厚度無損檢測方法包括重量法、磁性法、渦流法，射線反射法，x 射線熒光法、機械量具法等; 鍍層厚度破壞檢測方法包括...查看詳情>>

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鍍層/涂層厚度簡介
厚度是衡量電鍍層/涂層品質的重要指標之一，它直接影響鍍件的耐蝕性、裝配導電性以至產品的可靠性。鍍層厚度測試檢測材料表面的金屬和氧化物覆層的厚度測試。

鍍層厚度檢測方法
鍍層厚度測定方法分無損法和破壞法。
鍍層厚度無損檢測方法包括重量法、磁性法、渦流法，射線反射法，x 射線熒光法、機械量具法等;
鍍層厚度破壞檢測方法包括溶解法、液流法、點滴法、庫侖法、金相顯微鏡法、輪廓儀法、干涉顯微鏡法等。
這些測量方法都有各自的特點和局限性，很準相互取代。但磁性法應用最廣

鍍層厚度相關標準
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GB/T 30869-2014 太陽能電池用硅片厚度及總厚度變化測試方法
GB/T 4893.5-2013 家具表面漆膜理化性能試驗第5部分：厚度測定法
GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及總厚度變化測試自動非接觸掃描法
GB/T 11374-2012 熱噴涂涂層厚度的無損測量方法
GB/T 28122-2011 液晶顯示器（LCD）用聚乙烯醇（PVA）膜厚度測定方法
GB/T 14847-2010 重摻雜襯底上輕摻雜硅外延層厚度的紅外反射測量方法
GB/T 25451-2010 重水堆核電廠燃料元件涂層厚度測量β射線背散射法
GB/T 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅層厚度的測量 X射線光電子能譜法
GB/T 25276-2010 液晶顯示器（LCD）用三醋酸纖維素酯（TAC）膜厚度測定方法
GB/T 6618-2009 硅片厚度和總厚度變化測試方法
GB/T 24328.2-2009 衛生紙及其制品第2部分：厚度、層積厚度和表觀密度的測定
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GB/T 13960.4-2009 可移式電動工具的安全第二部分：平刨和厚度刨的專用要求
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GB/T 22638.1-2008 鋁箔試驗方法第1部分：厚度的測定重量法
GB/T 2951.11-2008 電纜和光纜絕緣和護套材料通用試驗方法第11部分：通用試驗方法厚度和外形尺寸測量機械性能試驗
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GB/T 328.5-2007 建筑防水卷材試驗方法第5部分：高分子防水卷材厚度、單位面積質量
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GB/T 8758-2006 砷化鎵外延層厚度紅外干涉測量方法
GB/T 20220-2006 塑料薄膜和薄片樣品平均厚度，卷平均厚度及單位質量面積的測定稱量法（稱量厚度）
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GB/T 20018-2005 金屬與非金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量 β射線背散射法
GB/T 11378-2005 金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量輪廓儀法
GB/T 451.3-2002 紙和紙板厚度的測定
GB/T 12334-2001 金屬和其他非有機覆蓋層關于厚度測量的定義和一般規則
GB/T 17722-1999 金覆蓋層厚度的掃描電鏡測量方法
GB/T 17598-1998 土工布多層產品中單層厚度的測定
GB/T 3820-1997 紡織品和紡織制品厚度的測定
GB/T 15717-1995 真空金屬鍍層厚度測試方法電阻法
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