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中國電子科技集團公司第五十八研究所檢測中心
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樣品名稱:半導體 集成電路外殼
檢測項目:最高額定工作 溫度下的開關試驗
認可資質:CNAS CMA
檢測標準:電子及電氣元件試驗方法 GJB360B-2009 方法303
所屬行業分類:
標簽: 最高額定工作 溫度下的開關試驗 半導體 集成電路外殼
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