您當前的位置:首頁 > HALT/HASS測試
1.HALT(高加速壽命測試):Highly accelerated life test是一種發(fā)現(xiàn)設計缺陷的工序,它通過設置逐級遞增的加速環(huán)境應力,來加速暴露試驗樣品的缺陷和薄弱點,而后對暴露的...
檢測機構:深圳一通檢測技術有限公司 更多相關信息>>
檢測項:環(huán)境應力篩選 檢測樣品:電工電子產品與軍用設備 標準:電子產品環(huán)境應力篩選方法GJB1032-1990
檢測項:環(huán)境應力篩選 檢測樣品:電工電子產品與軍用設備 標準:電子產品環(huán)境應力篩選方法GJB1032-1990
機構所在地:廣東省廣州市
檢測項:可靠性強化試驗 檢測樣品:軍用 設備 電工 電子 產品 標準:Storage技術公司: HALT-HASS導則
檢測項:可靠性強化試驗 檢測樣品:軍用設備電子電工產品 標準:Storage技術公司: HALT-HASS導則
機構所在地:湖南省長沙市
檢測項:環(huán)境應力篩選 檢測樣品:電工電子產品與軍用設備 標準:GJB 1032—1990 《電子產品環(huán)境應力篩選方法》
檢測項:環(huán)境應力篩選 檢測樣品:電工電子產品與軍用設備 標準:GJB/Z 34—1993 《電子產品定量環(huán)境應力篩選指南》
檢測項:環(huán)境應力篩選 檢測樣品:電工電子產品與軍用設備 標準:GJB 1032—1990 《電子產品環(huán)境應力篩選方法》
機構所在地:江蘇省連云港市
檢測項:環(huán)境應力篩選 檢測樣品:電工電子產品、汽車產品與軍用設備 標準:GJB1032-1990 電子產品環(huán)境應力篩選方法
機構所在地: