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海思芯片ESD & Latch-up 測試技術規范（25頁）

• 資料介紹

  海思芯片ESD & Latch-up 測試技術規范（25頁）

  適用范圍:
  本規范規定了ESD&LatchUp測試的具體流程以及相關技術標準，適用于量產的項目芯片的ESD &Latch Up評估。
   
  簡介:
  ESD測試主要用于評估芯片的抗ESD電壓水平。抗ESD電壓低的芯片容易在生產、運輸、安裝的過程中，出現大量芯片的失效。LatchUp測試主要用于評估芯片的抗閂鎖能力。抗門鎖能力低的芯片在應用過程中，輸入電流或者電壓的波動很容易造成芯片內部出現閂鎖失效。ESD&LatchUp測試是芯片量產前的關鍵測試，是判斷芯片能否量產的主要判據。
   

• 資料大小：
  1719.66KB
• 所屬類別：
  實驗管理
• 更新日期：
  2022-06-23
• 適用行業：
  電子電氣
• 上傳人：
  Simonx
• 標 簽：

  芯片 海思 ESD Latch-up

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