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海思HAST測試技術規范V1.2（5頁）

• 資料介紹

  海思HAST測試技術規范V1.2（5頁）

  適用范圍:
  該試驗檢查芯片長期貯存條件下，高溫和時間對器件的影響。本規范適用于量產芯片驗證測試階段的HAST測試需求，僅針對非密封封裝(塑料封裝)，帶偏置bHAST)和不帶偏置(uHAST)的測試。
   
  簡介:
  該試驗通過溫度、濕度、大氣壓力加速條件，評估非密封封裝器件在上電狀態下，在高溫、高壓、潮濕環境中的可靠性。它采用了嚴格的溫度，濕度，大氣壓、電壓條件，該條件會加速水分滲透到材料內部與金屬導體之間的電化學反應。
   

• 資料大小：
  510.9KB
• 所屬類別：
  科研開發
• 更新日期：
  2022-06-23
• 適用行業：
  電子電氣
• 上傳人：
  Simonx
• 標 簽：

  芯片 海思 HAST

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