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稀土分析的主要任務是稀土總量的測定、混合稀土中單一稀土元素含量的測定。由于稀土元素的化學性質十分相似，因此稀土分析是無機分析中最困難和最復雜的課題之一。為了測量各種含量范圍、不同形態的稀土元素總量和各種單一稀土元素，幾乎采用了所有的分析手段。下面介紹稀土分析最常用的分析方法。

化學分析

稀土元素的化學分析法包括重量法和滴定法，主要用于稀土總量的測定。

1、重量法

重量法用于稀土含量大于5%的試樣的分析，是測定稀土總量的古老的、經典的分析方法。該法雖然流程長、操作繁瑣，但其準確度和精密度均優于其它方法，因此國內外常量稀土總量的仲裁分析或標準分析方法均是采用重量法。

能用于稀土沉淀劑的有草酸、二苯基羥乙酸、肉桂酸、苦杏仁酸等，其中草酸鹽重量法因其具有準確度高、沉淀易于過濾等優點而被廣泛采用。該法是將草酸鹽沉淀分離得到的沉淀灼燒成氧化物進行稱量。

2、滴定法

滴定分析法測定稀土主要是基于氧化還原反應和配位反應。對于稀土礦物原料分析、稀土冶金的流程控制和某些稀土材料分析，配位滴定法常用于測定稀土總量。氧化還原滴定法常用于測定鈰、銪等變價元素。單一稀土的滴定法的測定范圍和精密度與重量法相當，而操作步驟比重量法簡單，常用于組分較簡單的試樣中稀土總量的測定。

對于混合稀土總量的測定來說，由于試樣的稀土配分不清楚或多變，給標準溶液的標定帶來困難，并由此而造成誤差。因此，混合稀土總量的滴定法主要用于生產過程的控制分析。稀土元素的氧化還原滴定法主要用于Ce4+、Eu2+的測定，由于其他稀土元素和其他不變價元素不干擾測定，因此該法具有較好的選擇性。

儀器分析

稀土元素的儀器分析方法主要有可見分光光度法、電感耦合等離子體原子發射光譜法（ICP-AES）、電感耦合等離子體質譜法（ICP-MS）、X射線熒光光譜法（XRF）。各自的應用情況見下表。

儀器分析法在稀土元素測定中的應用

高純稀土分析方法

“高純稀土”通常是指純度高于99.99％的稀土金屬及其化合物，大功率光纖激光器對摻雜稀土的純度要求更高，通常要求達到99.999％(5N)以上。隨著電子、光學和光電子等尖端科學技術的發展，高純度稀土金屬材料的需求量日益增大，為了開發稀土金屬及其化合物的新特性，研究人員對原材料提出了更高的純度要求，要求雜質含量為ppm(μg/g)級別甚至更低，純度高于99.9999％(6N)的超高純稀土化合物開發力度逐漸加大，因此超高純稀土化合物純度分析具有重大意義。

稀土伴生的特點決定了超高純稀土化合物的分析表征是一項極具挑戰性的工作，是整個行業的一個難點，對于高功率激光光纖材料，特定雜質含量還有許多特殊要求。傳統的針對高純稀土金屬化合物的純度檢測僅限于稀土金屬雜質(如Y、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Lu等)的檢測，而對非稀土金屬雜質離子(如V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ca、Mg等)含量沒有嚴格界定。

事實上，在光學應用領域，以過渡族金屬為代表的非稀土雜質離子甚至在ppb水平上嚴重影響器件的光學性能，因此對高純稀土金屬化合物中非稀土金屬雜質的檢測也是非常重要的，然而由于長期受限于檢測技術水平的發展，目前國內在針對大于5N純度的稀土化合物的全元素分析領域尚無可靠方法。

目前高稀土中痕量稀土金屬雜質的分析方法主要有化學光譜法、電感耦合等離子體發射光譜法(ICP-AES)和電感耦合等離子體質譜法(ICP-MS)等，其中化學光譜法存在取樣量大、流程長等缺點；ICP-AES法譜線復雜，靈敏度較低而無法滿足純度99.999％(5N)以上高純化合物的分析要求；ICP-MS法具有檢出限低、靈敏度高、譜線簡單等特點，被證明是最有效的痕量稀土元素檢測手段之一。

三重四極桿ICP-MS不經任何基體分離手段，能輕松解決高純稀土元素中雜質元素檢測的干擾問題，為高純稀土質量提供有力質量控制手段。