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        某連接器夏天存放的時(shí)候在表面會(huì)出現(xiàn)一些白點(diǎn)，而且白點(diǎn)一般從無到有，并會(huì)慢慢的長(zhǎng)大。檢測(cè)機(jī)構(gòu)對(duì)白點(diǎn)的成分進(jìn)行分析，鑒于表面異物含量比較少，所以采用飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜(TOF-SIMS)的分析手段。

分析方法簡(jiǎn)述

        TOF-SIMS是一種有效的表面分析手段，能檢測(cè)氫在內(nèi)的所有元素及同位素，并能分析有機(jī)物的官能團(tuán)。所以對(duì)樣品表面進(jìn)行TOF-SIMS分析，失效點(diǎn)（產(chǎn)生白點(diǎn)的位置）和正常位置的測(cè)試結(jié)果如下圖所示，由譜圖可知，相比正常位置，失效點(diǎn)含有較高的Cl和Br。由此推斷：失效點(diǎn)含有較高含量的Cl和Br（極性強(qiáng)，易吸濕），在夏季濕熱的環(huán)境下，吸潮形成電解液，產(chǎn)生電化學(xué)腐蝕，導(dǎo)致連接器表面產(chǎn)生白點(diǎn)，隨著腐蝕加深，白點(diǎn)慢慢擴(kuò)散、變大。這可能是引起該連接器產(chǎn)生白點(diǎn)的主要原因。

樣品測(cè)試結(jié)果圖片