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淺談金屬元素RoHS分析

嘉峪檢測網(wǎng)        2018-09-13 10:06

關(guān)于金屬元素分析,很多品質(zhì)工程、項目開發(fā)人員對該領(lǐng)域都比較陌生,常常詢問:“這個設(shè)備能分析這個金屬成分嗎?”而對于檢測人員,往往受制于膜厚設(shè)備的不可自主編程性以及金屬成分分析需要很強的專業(yè)性,導(dǎo)致對設(shè)備的熟悉程度僅僅局限于操作。為揭開膜厚測試及金屬成分分析的神秘面紗,我們很有必要詳細的探討一下。

 

RoHS分析流程圖:

淺談膜厚測試與金屬元素分析

 

定性分析原理

 

淺談膜厚測試與金屬元素分析

 

 

定量分析原理

 

淺談膜厚測試與金屬元素分析

 

淺談膜厚測試與金屬元素分析

 

傅里葉(也叫傅立葉)變換算法是什么梗?

測量攻城獅高等數(shù)學(xué)沒學(xué)好,因為當(dāng)初看到太復(fù)雜的傅里葉變換公式,頭腦就呈現(xiàn)出枯燥、乏味、抽象、巨大的深惡痛絕感。為了弄清楚算法意思,我們在不看公式情況下,了解傅里葉算法中的時域、頻域、復(fù)數(shù)等理論,鑒于篇幅太長,感興趣的朋友,可以搜索“深入淺出的講解傅里葉變換(真正的通俗易懂)”,閱讀生動形象的風(fēng)趣解讀。

 

傅里葉歸納和測量界的應(yīng)用:

傅里葉分析不僅僅是一個數(shù)學(xué)工具,更是一種可以徹底顛覆一個人以前世界觀的思維模式。

傅里葉變換算法的解釋,就像超越我們?yōu)榱苏f明《月薪三萬的面試題》老師的生日,需要寫滿2頁A4紙,運用推導(dǎo)、排除、相互關(guān)聯(lián)等邏輯思維來獲得答案的過程。就像上述不同長短的波長曲線一樣,不管波形如何變化,總能找到規(guī)律。

傅里葉變換算法可以應(yīng)用在圖像處理、機器視覺方面的智能算法。

 

波長色散 X 射線熒光光譜儀 (WDXRF)工作原理

 

淺談膜厚測試與金屬元素分析

 

波長色散 X 射線熒光光譜儀結(jié)構(gòu)圖示(下照式)

 

淺談膜厚測試與金屬元素分析

 

淺談膜厚測試與金屬元素分析

備注:XRF設(shè)備可以分析元素周期表中從Be到U的元素,波長從0.01nm~2nm,但不能分析H、Li、He,原因是這些元素沒有足夠的電子。

 

掃描電鏡能譜儀(SEM-EDS)(Scanning Electron Microscope & Energy Dispersive X-ray Spectroscopy)

 

淺談膜厚測試與金屬元素分析

 

為了實現(xiàn)元素成份+形貌分析,SEM&EDS組合是應(yīng)用最廣的顯微分析儀器,它能快速對各種試樣的微區(qū)內(nèi)的所有元素進行定性、定量分析。

 

掃描電子顯微鏡(SEM)分析原理

 

掃描電子顯微鏡,是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像。掃描電子顯微鏡由電子槍、聚光鏡、物鏡等組成,聚光鏡、物鏡將電子槍發(fā)出的電子匯聚在試樣上,經(jīng)過試樣內(nèi)的多次彈性散射和非彈性散射后,在樣品表面外形成多種信息。這些信息與樣品表面的幾何形貌以及化學(xué)成分等有很大的關(guān)系。通過這些信息的解析就可以達到獲得表面形貌和化學(xué)成分的目的。

 

淺談膜厚測試與金屬元素分析

 

淺談膜厚測試與金屬元素分析

關(guān)于ED-XRF儀器輻射問題

 

國務(wù)院《放射性與射線裝置安全和防護條例》中第四條規(guī)定,國家對放射源和射線裝置實行分類管理。根據(jù)放射源、射線裝置對人體健康和環(huán)境的潛在危害程度,從高到低將放射源劃分為I類、II類、III類、IV類、V類,其中,EDXRF屬于第III類放射裝置。根據(jù)國家環(huán)境保護總局公告《放射源分類辦法》描述,III類放射裝置屬于低危險的射線裝置,出現(xiàn)事故時一般不會造成受照人員的放射損傷。

對于EDXRF設(shè)備廠家,設(shè)備一般都具備以下防護措施:

  1. X射線管采用鉛層外殼,有效阻止X光管在工作時產(chǎn)生的射線發(fā)散輻射可能;

  2. X射線管在發(fā)射X射線照射到樣品上時,為防止X射線射穿樣品造成額外輻射,儀器廠家均會采用金屬蓋蓋住樣品倉,避免X射線工作時對人體造成輻射傷害。一般X射線的穿透力在金屬里最多只有幾毫米,廠家為了確保輻射防護,樣品倉蓋的厚度遠遠大于這個厚度,部分廠家甚至把整個外殼全部用鉛層覆蓋;

  3. 大部分廠家均有打開樣品倉X射線自動停止工作的裝置,確保打開樣品倉后不會對人體造成輻射傷害。

 

淺談膜厚測試與金屬元素分析

美國科學(xué)院(NAS)通過對過去50年對包括廣島和長崎原子彈爆炸幸存者研究在內(nèi)的輻射生物學(xué)效應(yīng)相關(guān)數(shù)據(jù)進行分析后,發(fā)布了關(guān)于電離輻射生物學(xué)效應(yīng)的第7次報告稱:低劑量輻射(0-100mSv)也可能潛在威脅人體健康。因為低劑量輻射已具備足夠的能力來損傷DNA,進而引發(fā)癌癥。

根據(jù)該報告資料:每100人接受100mSv劑量的電離輻射(約10次CT),其中1人在未來可能會患實體腫瘤或白血病,但低劑量電離輻射的致癌風(fēng)險可隨年齡的增長而降低。兒童和年輕人是高危人群。

 

對于EDXRF,從事輻射行業(yè)的人員劑量限值5年,每年平均值20mSv,任一年值不超過50mSv;公眾照射劑量限值15mSv;正常人體每年日常吸收輻射劑量為2.4mSv, 一個人一年吸收輻射在2000uSv以內(nèi)是正常的,對身體不會有影響(1mSv=1000uSv),

一般情況下,可以再加1000uSv,也不會有太大影響,專業(yè)人士(經(jīng)常使用X熒光儀器的人)可以加到20000uSv是允許的,有的時候?qū)I(yè)人士可以加到50000uSv。

懷孕的人不要超過20000uSv,法律允許人一年所吸收輻射值為50000uSv。

儀器由于包裝材料好,不會放出X射線,只有槍口有X射線。人的手離槍口最近,大概5cm,操作員手吸收輻射值為0.7uSv/hr,按一天工作8小時,1周工作40個小時,一年工作48周計算:

      0.7uSv×40hr ×48wk=1344uSv/年

      如果每天用儀器工作2個小時,計算:

      0.7uSv×10hr ×48wk=336uSv/年    (遠遠小于國家限制)

照一次CT,短時間人體攝入輻射量約為10mSv

操作5年EDXRF,相當(dāng)于照一次CT,但遠低于CT,因為前者是長期疊加,后者是一次短時間受射,所以沒有十分必要,還是少照CT。

至此,操作EDXRF的寶寶們,根本不用慌張,但要嚴格按照設(shè)備操作規(guī)程操作。

 

總結(jié)

 

無論是XRD或者XRF,對操作者的專業(yè)性要求是非常高的,設(shè)備廠家的針對性解決當(dāng)前測試需求的培訓(xùn)解讀顯然是不夠的,大部分基礎(chǔ)用戶局限于供方RoHS強制性要求,所以只掌握了與RoHS相關(guān)測試的判定標準,而整個實驗過程的變異、超標情況下有沒有運用3-SIGMA理論判斷等等,一概不知。當(dāng)測試元素要求超出RoHS范圍時,操作員常常是束手無策;另一方面,由于企業(yè)對類似分析的需求量非常少,一旦超出RoHS分析范圍,比如要用到XRF以外的專用設(shè)備,企業(yè)首選解決方案是尋求第三方專業(yè)機構(gòu)解決,其次是咨詢設(shè)備廠家,確定設(shè)備可以滿足該分析后,由設(shè)備廠家有償提供測試程序的編寫。

 

淺談膜厚測試與金屬元素分析

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來源:測量者

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