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在實際高分辨電子顯微鏡像的觀察中，除物鏡的襯度傳遞函數外，入射電子的能量變化、色差以及試樣上入射電子的會聚角等都會引起分辨率下降。

色差和會聚角對像分辨率的影響

由色差引起成像時聚焦的變化Δ為

式中，Cc為色差系數；ΔI為物鏡電流的變化量。色差引起散射波的衰減為

由電子會聚角引起散射波的衰減為

式中，圖片表示相對于試樣入射電子的會聚角。由于電子能量的變化和電子會聚角的影響，散射波的高波數成分的貢獻減弱，可以用一個包絡函數來描述。圖1示出了400 kV電子顯微鏡的襯度傳遞函數(實線)和色差引起的包絡函數(虛線)。這樣，實際有效的傳遞函數如圖1b所示，在高波數區域使分辨率顯著下降。 

圖1 色差對物鏡襯度傳遞函數的影響

弱相位體由不同原子構成，那么在電子束方向上重原子列具有較大的勢，輕原子列具有較小的勢(圖2a)，在重原子列的位置，像強度弱，如圖2b所示。對比圖2a和b，圖像強度變化范圍比對應投影勢分布稍寬，這是由于球差、色差和會聚角對分辨率的影響。

圖3示出了400 kV拍攝的超導氧化物TlBa2CaCu4O11的高分辨電子顯微像。對比插入的原子分布圖與高分辨像可知，重原子Tl和Ba的位置出現大黑點，而這些金屬原子周圍相對來說是明亮，特別是，沒有氧原子存在的空隙，即勢最低的區域最明亮。

圖2 晶體勢與高分辨電子顯微像襯度對應的示意圖

圖3  超導氧化物TlBa2Ca3Cu4O11的高分辨電子顯微像

若試樣中同時存在非晶體和晶體，由于它們的投影勢不同，也將導致高分辨像不同的襯度特征。圖4a、b分別示出了薄試樣的非晶投影勢和晶體的投影勢。在非晶試樣中，原子的自由重疊導致投影勢的分布與其平均勢較小的偏離。而在晶體中，原子的規則排列，投影勢由明銳和高的峰主導，其分布與平均勢有有顯著的不同。由此不難想象，非晶勢的分布將導致一個弱的襯度，而晶體勢的分布將導致一個強的襯度。圖5是823 K濺射的FeCo(41％Vol)-Al2O3顆粒膜中非晶基體Al2O3的高分辨像及其傅里葉變換（右下角插圖）。

當試樣滿足弱相位體時，在謝爾策欠焦條件下拍攝的高分辨顯微電子像，由此能對結構直接進行解釋。高分辨像有一維結構像和二維結構像。

圖4 原子分布及其對應勢分布

圖5  Al2O3顆粒膜中非晶基體Al2O3的高分辨像及其傅里葉變換