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光照老化試驗方法簡介

嘉峪檢測網        2017-09-28 12:35

光照老化試驗是一種利用人造光源來模擬陽光、下雨、凝霧等自然環境,進而驗證塑料、橡膠、涂層等高分子材料對自然環境抵抗能力的試驗方法;有機材料在經過 長時間的人造光源照射后會出現變色、起皺、開裂等失效現象,通過分析試驗條件和材料的失效情況,可以評估材料的耐氣候性等級。

目前常用的光照老化試驗方法有氙弧燈老化、熒光紫外燈老化(UV老化)、碳弧燈老化和金屬鹵素燈老化。

一、名詞術語

  1. 箱體溫度:老化試驗箱內空氣的溫度;
  2. 黑板溫度(Black panel temperature, BPT):箱體內黑板溫度計表面的溫度,是光照老化試驗的一個重要參數,用于模擬樣品表面溫度;
  3. 黑標溫度(Black standard temperature, BST):其功能與BPT類似,但比BPT高約10%;
  4. 輻照功率:樣品表面單位面積接收到的輻照強度,單位為W/m2@nm;輻照功率可以用某一點的輻照強度表示,也可以用某一波段的輻照強度表示,如一個夏天中午太陽光照強度約為0.55W/m2@340nm、1.12W/m2@420nm、575 W/m2@300~800nm。
  5. 輻照量:在一段時間內樣品表面單位面積累計接受到的輻照能量,輻照量=輻照功率*輻照時間。


二、老化原理


在光照條件下,高分子材料里的不飽和雙鍵(C=C)、苯環、支鏈等不穩定結構吸收高能量的紫外光后,會發生一系列復雜的化學反應,導致材料出現變色、龜裂、失光、物理性能降低等現象。

常見化學反應類型有:

光引發:

光照老化試驗方法簡介

鏈增長:

光照老化試驗方法簡介

鏈終止:
光照老化試驗方法簡介

常見高聚合物的敏感波長如下:

高聚合物 敏感波長(nm)
聚碳酸酯(PC) 285~305, 330~360
聚乙烯(PE) 300
聚氯乙烯(PVC) 320
聚苯乙烯(PS) 318.5
聚丙烯(PP) 300
聚甲醛(POM) 300~320
聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA) 290~315


可以看出,所有高聚合物的敏感波長均在400nm以下,所以一般認為對材料老化起主要作用的是紫外波段,而可見光和紅外光主要起到熱效應。對于UV老化,由于其能量以紫外線為主,不具有熱效應,所以其黑板溫度和箱體溫度接近。

三、四種老化試驗方法對比

  氙弧燈 熒光紫外燈 碳弧燈 金屬鹵素燈
光源 氙弧燈管 UV燈管:UVA、UVB 碳弧燈:紫外型和陽光型 金屬鹵素燈
光譜范圍 可見波段
(300~800nm)
紫外波段
(280~400nm)
可見波段
(300~700nm)
可見+近紅外波段(300~2450nm
常見標準 GB/T 16422.2-2014
SAE J2527-2004
SAE J2412-2004
GB/T 16422.3-2014
GB/T 23987-2009
ASTM G154-2012
GB/T 16422.4-2014
ISO 4892.4-2013
JIS D0205-1987
GB/T 2423.24-2013
IEC 60068-2-5:2010
典型試驗條件 1.0.55W@340nm,BPT 89℃,50%RH,持續光照(常規產品)
2.0.55W@340nm,BPT 89℃,3.8h光照,1h黑暗(SAE J2412汽車內飾產品)
3.550W@300~800nm,BST 65℃,102分鐘干燥18分鐘噴淋,持續光照(GB/T 16422.2)
4. 1)40min光照0.55W@340nm,BPT 70℃,不噴水,
2)20min光照0.55W@340nm正面噴水,
3)60min光照0.55W@340nm不噴水,
4)60min黑暗:BPT 38℃,正背面噴水(SAE J2527, 汽車外飾)
1. UVA-340,0.76W@340nm,8h光照(BPT:60℃),4h冷凝(BPT:50℃)(GB/T 16422.3)
2. UVA-340,0.89W@340nm,8h光照(BPT:60℃),4h冷凝(BPT:50℃)(ASTM G154)

1.陽光型:255W@300-700nm,BPT 63 or 83℃,濕度:50%RH(JIS D0205)
2.紫外型:500W@300-700nm,BPT 63 or 83℃,濕度:50%RH(JIS D0205)

1. 120W@300~2450nm,8h光照16h黑暗
2.1120W@300~2450nm,20h光照4h黑暗

適用范圍 汽車內外飾材料
電子產品外殼材料
塑料、紡織品、涂料等其他材料
塑料、橡膠、紡織品、涂料等材料(汽車相關材料一般不用) 僅部分行業和產品及日系汽車材料使用 電子產品外殼材料
其他分析 其光譜與太陽光吻合最好,目前廣泛使用 僅能模擬紫外波段 與太陽光吻合不好且試驗成本高,已逐步被淘汰 試驗成本高,僅用于電子產品領域

備注:各試驗方法的光譜對比

 

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來源:AnyTesting

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